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研討會活動
[台南 實體研討會] 元件電路分析與測試技術研討會-窺探元件電路,啟迪創新之路!
2023-08-22

[台南 實體研討會]元件電路分析與測試技術研討會

在這個充滿創新與挑戰的科技時代,半導體元件的設計和推廣已變得更加複雜而迫切。無論是GaN高頻通訊和功率市場、微機電感測晶片,還是低功率IC設計,元件的性能和可靠性對技術發展至關重要。本研討會特別邀請到南台科大 邱裕中特聘教授擔任講師,分享GaN HEMT相關議題,共同探討如何在半導體設計中運用嶄新的解決方案來優化元件的性能。

2023.10.13 (五) 13:25  台南 沙崙綠能科技示範場域 


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主辦單位: 品勛科技 & 是德科技(keysight)

親愛的客戶,您好:

   在快速變遷的科技領域中,高效能半導體元件的設計和測試是追求創新和可靠性的關鍵。無論是探索微機電感測晶片,還是解決低功率IC的設計挑戰,都需要深入分析元件的特性以及實際應用情境。為了解決這些多層面的問題,我們必須依賴先進的測試技術和解決方案。

   特別邀請到南台科大 邱裕中特聘教授擔任講師,分享在氮化鎵(GaN)高電子遷移率電晶體(HEMTs)領域的專業見解,從元件的設計到測試,從性能評估到材料選擇,從理論到實際應用,涵蓋廣泛的議題,以期幫助參與者更好的應對面臨的技術挑戰。也邀請到宏汭精測 林明正總經理分享如何利用先進的測試技術來確保在元件實際操作狀態下的穩定性和效能。透過實際案例分析和最新技術分享,協助您更有效應對不斷複雜的元件測試需求。本研討會將與業界的專家和學者攜手,共同探討如何在半導體設計中運用嶄新的解決方案來優化元件的性能和耐用性。

元件電路-IV-電路分析研討會

本研討會特別邀請南台科大 邱裕中特聘教授及宏汭精測 林明正總經理前來分享,歡迎踴躍報名!

活動時間與地點

2023 年 10 月 13 日 (五) 13:25~16:20
台南 沙崙綠能科技示範場域
台南市歸仁區高發二路360號


** 歡迎將本研討會分享給您的同事或朋友,經主辦方審核通過,推薦人與被推薦的新朋友皆可額外獲得BMI健康尺 **

活動流程:

13:25~13:55               開場及報到
14:00~14:40               The Development Status of GaN High Electron Mobility Transistors

                                   * 講師: 南台科技大學 邱裕中 特聘教授
14:40~14:50               小憩片刻/講師Q&A
14:50~15:30               如何在氮化鎵元件操作狀態下執行動態測試?
                                   * 講師: 宏汭精測科技 林明正 總經理

15:30~15:50               小憩片刻/攤位導覽
15:50~16:10               低功率 IC 特性分析解決方案
                                   * 講師: 品勛科技技術部 Vincent Lin
16:10~16:20               問卷回填及幸運抽獎

活動介紹:

1. The Development Status of GaN High Electron Mobility Transistors  ( 講師: 南台科技大學 邱裕中 特聘教授)

針對GaN高頻通訊與功率市場來看整個未來技術發展,偏重GaN 基礎材料、磊晶知識、GaN HMET製作與結構技術以及目前領先的公司技術含量,屬於專業技術課程。

  • 寬能隙功率半導體應用市場
  • GaN HEMT元件技術:
    • 磊晶基版分類
    • GaN HEMT MOCVD磊晶原理與磊晶結構
    • 電性分析、Ron來源與衰退、
  • 目前國際上IDM公司最新的產品近況
  • 目前國際上的研發團隊近況
    • 元件設計
    • 特性強化
    • 特殊應用
2. 如何在氮化鎵元件操作狀態下執行動態測試?  ( 講師: 宏汭精測科技 林明正總經理)

Dynamic Rdson Vth Vsd是動態測試的三個重要關鍵參數,市面上現有的半導體參數分析儀提供了GaN元件在靜止狀態下的Rdson、Vth、Vsd測試需求,但要如何得知在實際操作狀態下的Rdson、Vth、Vsd呢?花了大把時間設計的GaN元件,若無法得知操作狀態下的動態參數,又要如何確保元件上系統後的效果呢?要加速GaN的商業化、量產化,首先要確保元件的穩定及可用性。

3. 低功率 IC 特性分析解決方案  ( 講師: 品勛科技 Vincent Lin)

儘管創新週期不斷縮短,相關標準不斷變化,但在半導體元件的設計和推廣過程中仍然需要耗費大量的時間。在整個設計週期中,數位開發工程師必須連接並測試待測物(DUT)上的多個埠,以進行故障診斷和IC性能的評估。若未能使用高密度且自動化的解決方案來進行測試,傳統的測試方法在驗證複雜的多埠設計時可能會導致交付進度的延遲風險。在本講題中,我們將分享Keysight最新的PZ2100系列高密度SMU解決方案,以協助工程師有效應對這一挑戰,讓使用者能夠更專注的進行評估工作,同時也有效縮短上市時間,無需過多擔心同步問題!

報名方式:

請優先使用線上報名,若無法使用線上報名,可私訊或email至charlene@pinsyun.com.tw索取報名表 *

注意事項

- 請優先使用線上報名,若無法使用線上報名,可私訊或email至charlene@pinsyun.com.tw索取報名表。
- 主辦單位保留報名資格之審核權利,活動前將以電子郵件方式通知「報到編號」,以確認您的參加。
- 為響應環保,活動當天不提供紙本講義,僅以電子檔為主,講義將於活動前一周提供。
歡迎將本研討會分享給您的同事或朋友,經主辦方審核通過,推薦人與被推薦的新朋友皆可額外獲得BMI健康尺!

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                         高通道密度精密型 SMU >>PZ2100 系列
                         多通道示波器>> EXR系列示波器
                         高壓差動探棒>>DP0001A



* 延伸閱讀:如何在功率半導體/寬能隙半導體材料-氮化鎵(GaN)操作(switching)狀態下執行動態測試?
* 延伸閱讀:氮化鎵功率半導體元件動態參數分析儀(GaN Device Dynamics Analyzer)